微波通訊元件實驗室

原子力顯微鏡 - 5500

原子力顯微鏡(AFM)屬於掃描探針顯微技術(SPM)的一支,此類顯微技術都是利用特製的微小探針,來偵測探針與樣品表面之間的某種交互作用,如穿隧電流、原子力、磁力、近場電磁波等等,然後使用一個具有三軸位移的掃描器,使探針在樣品表面做樣品做掃描,並利用此掃描器的垂直微調能力及回饋電路,讓探針與樣品問的交互作用在掃描過程中維持固定,而只要記錄掃描面上每點的垂直微調距離,我們便能得到樣品表面的等交互作用圖像,這些資料便可用來推導出樣品表面特性。

向量網路分析儀 - E5071C

針對設計和製造等應用方式,量測無線電頻率 (RF) 和微波元件、系統、子系統的振幅、相位、損失、阻抗、駐波比、透射係數和反射係數…等。

向量網路分析儀 - N5222A

針對設計和製造等應用方式,量測無線電頻率 (RF) 和微波元件、系統、子系統的振幅、相位、損失、阻抗、駐波比、透射係數和反射係數…等。

向量網路分析儀 - N5224A

針對設計和製造等應用方式,量測無線電頻率 (RF) 和微波元件、系統、子系統的振幅、相位、損失、阻抗、駐波比、透射係數和反射係數…等。

被動式微波暗室 - A3

此測試系統可以進行快速的進行小型無線設備和手機天線性能測量,可進行2D或3D場型量測,最大可支援13 吋平板裝置。

阻抗分析儀 - E4990A

E4990A 阻抗分析儀可在廣泛的阻抗範圍內提供業界最佳的 0.045% 基本準確度,以及內建 40 V 的直流偏壓源。其精密的等效電路分析功能可支援 7 種不同的多參數模型,可協助您模擬元件的等效參數值。

毫米波電路製作
毫米波電路製作
毫米波基板開發
毫米波基板開發
3D輻射場型
3D輻射場型
BGA封裝載板
BGA封裝載板
AFM 2D Image
AFM 2D Image
AFM 3D Image
AFM 3D Image
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3D輻射場型
BGA封裝載板
AFM 2D Image
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